Non-Uniform Multi-Layer IC Interconnect Transmission Line Characterization for Fast Signal Transient Simulation of High-Speed/High-Density VLSI Circuits
어영선, 0, 0
IEICE Trans. Electronics., 1999
133
실리콘 기판 효과를 고려한 VLSI 인터컨넥트의 전송선 파라미터 추출 및 시그널 인테그러티 검증
어영선, 0
전자공학회지, 1999
134
VLSI 배선에서 층간 차폐효과가 스위칭에 미치는 영향
어영선, 0
디스플레이공학 연구소 논문집, 1999
135
Utilization of Photon Emission Microscopy in Determining Drain Junction Property of Submicron NMOSFETs
어영선, 0, 0, 0, 0
Journal of the Korean Physical Society, 1998
136
Simulation for Interconnects and General Multiline Analysis (SIGMA): Simulation Algorithm of Lossy Multiple Transmission Lines
어영선, 0, 0, 0, 0
Journal of Korean Physical Society, 1998
137
고속 VLSI 회로에서의 커플링 노이즈
어영선
공학기술논문집, 1998
138
CMOS 집적회로에서 스위칭 노이즈에 의한 신호선의 전압 변동 해석 및 모델링
어영선, 0, 0, 0, 0
전자공학회지, 1998
139
Trade-Off between Hot Carrier Effect and Current Driving Capability Due to Drain Contact Structures in Deep Submicron MOSFETs
어영선, 0, 0, 0, 0, 0, 0
Japanese Journal of Applied Physics, 1998
140
Simulator for Interconnects and General Multiline Analysis(SIGMA)