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·2024
Calibrating the Dark Count Rate of Single Photon Avalanche Diodes Using Linear Regression
Youngmin Cho, Jinwook Burm
초록

암흑 계수율(Dark Count Rate, DCR)은 단일 광자 애벌랜치 다이오드(Single Photon Avalanche Diodes, SPADs)의 고유한 특성이다. 회로 수준에서 DCR을 감소시키기 위해 액티브 퀀칭 액티브 리셋(Active Quenching Active Reset, AQAR) 방식이 사용됨에도 불구하고, 퀀칭 회로에 연결된 카운터는 의도된 광 입력이 없는 경우에도 종종 증가를 기록한다. 따라서 DCR의 정확한 보정을 위해서는 외부 방법이 필요하다. 본 논문은 이러한 보정을 위한 방법으로, 파이썬 프로그램으로 구현된 선형 회귀를 제안한다.

*본 초록은 AI를 통해 원문을 번역한 내용입니다. 정확한 내용은 하기 원문에서 확인해주세요.

키워드
Linear regressionDiodePhotonAvalanche diodeSingle-photon avalanche diodeOptoelectronicsPhoton countingPhysicsOpticsAvalanche photodiode
타입
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게재 연도
2024

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