대표 연구 분야
고주파 초음파 검사 기반 응용
Ultrasonic inspection-based semiconductor-AI convergence application
상세 설명
- 반도체 웨이퍼 및 소자의 층별 비파괴 검사(NDT) 기법 개발 - 고속 영상 재구성을 위한 행렬 연산 기반 빔포밍 및 병렬화 알고리즘 최적화 - 광학/음향 융합형 나노·마이크로스케일 분석 플랫폼 연구 - AI기반 고해상도 영상 복원 연구
키워드
NDT
Scanning Aousctic Microscopy
Beamforming
Synthetic Aperture Imaging
Generative AI
Diffusion Models
Super-Resolution Imaging
High-frequency Ultrasound
관련 이미지
-
관련 자료
-