선강도 매핑(Line intensity mapping, LIM)은 우주의 3차원 영역에서 해상되지 않은 은하들로부터 적분된 스펙트럼 선(line) 방출을 측정하는 성장하는 기법이다. LIM 실험은 궁극적으로 자기상관(auto-correlation)을 통해 강력한 우주론적 제약을 제공하는 것을 목표로 하지만, 많은 LIM 실험은 중첩되는 은하 관측 설문조사를 활용하여 두 데이터셋의 공동 분석을 가능하게 하는 방향으로 설계되기도 한다. 본 연구에서는 동일한 모의 은하 모집단에 대해 모의 은하 설문조사와 모의 LIM 데이터를 동시에 생성할 수 있는 유연한 시뮬레이션 파이프라인을 제시한다. 이 파이프라인을 사용하여 간단한 공동 분석 기법인 전통적인 은하 카탈로그로부터 얻은 은하의 위치에 대해 LIM 데이터를 3차원으로 공가(적층, co-addition 또는 stacking)하는 방법을 탐구한다. 우리는 이 기법의 산출물이 LIM 실험과 은하 설문조사의 실험 설계 변화에 어떻게 반응하는지, 다양한 천체물리학적 매개변수에 대한 감도는 어떠한지, 그리고 흔한 체계적 오차에 얼마나 취약한지를 시험한다. 그 결과, 적층 분석을 위한 이상적인 카탈로그는 가능한 한 많은 고질량 암흑물질 헤일로를 대상으로 하는 것이 유리함을 발견하였다. 또한 LIM 적층 분석에서의 신호는 카탈로그 대상 천체 자체로부터 거의 전적으로 기인하기보다는, 카탈로그 천체를 둘러싼 헤일로들의 거대규모 클러스터링으로부터 발생함을 확인하였다. 적층은 LIM 탐지를 달성하기 위한 민감하고 개념적으로 단순한 방법이어서, LIM 자기상관 검출을 검증하는 데 유용한 접근이지만, 여기서 우리가 탐구한 우주론적 및 천체물리학적 매개변수들이 적층에 대해 중첩(변별 불가능)되는 영향을 가지므로, 관련된 은하 트레이서들을 추가로 특성화하기 위해서는 전면적인 교차상관(cross-correlation)이 필요할 가능성이 크다.

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