메모리 효과는 특정 사용 이력의 결과로 나타나는 배터리의 바람직하지 않은 비정상 전압 거동이다. Al이 도핑된 Li4Ti5O12(LTO), LiFePO4, 그리고 리튬 삽입/탈삽입 과정에서 상변화를 겪는 TiO2는 메모리 효과를 나타내는 것으로 알려져 있다. 이러한 재료에서의 메모리 효과는 대개 탈리튬화 전압 프로파일 초기에 나타나는 전위 오버슈트의 지연된 발현에서 기인한다. 일반적으로 메모리 효과는 상변화의 느린 전기화학적 동역학과 연관되어 있다. 본 연구에서는 결함이 많고 변형된 입자 표면에 의해 생성될 수 있는 불안정한 LTO/전해질 계면에서 기원하는, 도핑되지 않은 LTO에서의 새로운 메모리 효과의 원인을 규명한다. 전기화학 임피던스 분광법은 깊은 리튬화가 충전 전달에 대한 저항의 가변성을 초래하며, 이로 인해 이어지는 사이클에서 메모리 효과가 발생함을 보여준다. 본 연구는 LTO에서 전례 없는 메모리 효과를 예방하기 위해 입자/전해질 계면을 제어하는 것의 중요성을 시사한다.

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