우리는 단순한 선형 광학 실험을 통해 측정 선택의 문맥성(contextuality)이 양자 계측(quantum metrology)의 정밀도를 향상시킬 수 있음을 보인다. 문맥성은 다양한 양자 정보 처리 작업을 위한 자원으로 알려진 비고전적 성질이다. 최근 연구들은 이상적( anomalous) 약측값(weak values)에 의한 문맥성을 계측 정밀도 향상에 활용할 수 있으며, 이를 통해 양자 계측에서 문맥성의 역할을 규명할 수 있음을 보여주었다. 우리의 문맥성을 활용한 양자 계측(contextual quantum metrology, coQM) 방식은 양자 피셔 정보(Quantum Fisher Information)가 제시하는 정밀도 한계에 비해 광학 편광계측(optical polarimetry)의 정밀도를 최대 6배까지 끌어올릴 수 있다. 우리는 상호 보완적인 두 가지 측정으로 문맥성 기반 향상을 달성하는 반면, 전통적인 방법에서는 정밀도 한계에 도달하기 위한 일부 최적 측정은 이론적으로 찾기 어렵거나 실험적으로 구현이 불가능하다. 이러한 결과는 측정 선택의 문맥성이 실제 양자 계측에서 적용 가능함을 강조한다.

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