발행물
컨퍼런스
신뢰성분석연구센터 Workshop
2003
,
데이터 변환용 집적회로의 고장발생 요인 분석.
Asia-Pacific SoC conference
2002
The analysis of noise tolerance in TDM BIST scheme.
내장형시스템 연구센터 산학콘소시엄 학술회의 2001
2001
Mixed-signal SOC
IEEE
2000
Verification of delta-sigma converters using adaptive regression modeling
A comprehensive TDM comparator scheme for effective analysis of oscillation-based test