A Study on the Test Device for Improving Test Speed and Repeat Precision of Semiconductor Test Socket | 박형근 교수 연구실 | 남서울대학교 전자공학과

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·2021

A Study on the Test Device for Improving Test Speed and Repeat Precision of Semiconductor Test Socket

Hyoung-Keun Park

Journal of the Korea Academia-Industrial cooperation Society

키워드

Test (biology)Computer scienceEmbedded system

타입

Article

IF / 인용수

- / 0

원문

http://koreascience.or.kr/journal/view.jsp?kj=SHGSCZ&py=2021&vnc=v22n1&sp=327

게재 연도

2021

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2021