Statistically unbiased prediction enables accurate denoising of voltage imaging data
M. Eom, S. Han, P. Park, G. Kim, E. Cho, J. Sim, K. Lee, S. Kim, H. Tian, U. Bohm, E. Lowet, H. Tseng, J. Choi, S. Lucia, S. Ryu, M. Rozsa, S. Chang, P. Kim, X. Han, K. Piatkevich, M .Choi, C. Kim, A. Cohen, J. Chang, Y. Yoon*
Nature Methods, 2023