윤석찬 교수 연구실
특허
주요 특허
| 상태 | 출원연도 | 과제명 | 출원번호 | 상세정보 |
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수차를 야기하는 샘플 내의 타겟 오브젝트를 이미징하기 위한 초점 스캔 방식의 이미징 장치
샘플 내의 타겟 오브젝트를 측정하기 위한 고속 이미징 시스템
수차를 야기하는 샘플 내의 타겟 오브젝트를 이미징하기 위한 초점 스캔 방식의 이미징 장치
샘플 내의 타겟 오브젝트를 측정하기 위한 고속 이미징 시스템