주요 논문
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*2026년 기준 최근 6년 이내 논문에 한해 Impact Factor가 표기됩니다.
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2025Design of a Leaky Integrate-and-Fire Model-Based SPAD Image Sensor for Efficient Edge Detection
Minhyun Jin, Jiwon Lee
IF 5.2 (2025)
IEEE Transactions on Circuits and Systems I Regular Papers
본 논문은 110 nm CMOS 이미지 센서 기술을 이용하여 효율적인 에지 검출을 수행하는 누설 적분 및 발화(leaky integrate-and-fire, LIF) 모델 기반 단일광자 애벌랜치 다이오드(SPAD) 이미지 센서의 설계를 제시한다. SPAD의 디지털 펄스 출력 신호를 효과적으로 처리하기 위해 LIF 모델을 도입하였다. LIF 모델은 비동기 이벤트 기반 정보 처리를 통해 실시간 분석을 가능하게 하면서, 온칩 에지 검출 처리의 활용을 통해 계산적 중복성과 전력 소모를 동시에 최적화한다. 제안된 시스템은 각각의 단위에 대해 크기의 SPAD 어레이와 LIF 모델을 사용하여 최종적으로 해상도의 2-D 이미지를 출력하고 해상도의 에지 이미지를 출력한다. 에지의 모든 유형(수평, 수직, 대각)을 구분하기 위해 LIF 모델 기반 시냅스 제어 방식과 함께 6종의 시냅스 에지 마스크를 설계하였다. 제작된 칩은 동작 전력을 8.1 mW 이하로 낮추면서도 92%의 정확도로 효율적인 에지 검출을 보여주어, 제안된 구조의 타당성을 확인하였다.
https://doi.org/10.1109/tcsi.2025.3571670
Enhanced Data Rates for GSM Evolution
Edge detection
Computer science
Electronic engineering
Image (mathematics)
Image sensor
Image processing
Computer vision
Engineering
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2025A Color-Separable Vertical Pinned Photodiode for Scaled CMOS Image Sensor Pixels
Jae-Hyeok Hwang, Minhyun Jin, Jiwon Lee
IF 4.5 (2025)
IEEE Sensors Journal
상보성 금속-산화물-반도체(CMOS) 이미지 센서(CIS)에서는 색 정보 추출을 위해 베이어(Bayer) 패턴 컬러 필터 어레이(CFA)를 사용한다. 그러나 이러한 접근은 CFA로부터 신호가 손실되기 때문에 공간 해상도와 광 효율을 저하시킨다. 베이어 CFA에서 색 신호 손실은 녹색의 경우 약 50%, 적색과 청색의 경우 각각 약 75%이다. 본 논문은 공간 해상도를 유지하면서 광 효율을 향상시키기 위한 색 분리형 핀드 포토다이오드(PPD) 구조를 제안한다. 제안된 PPD에서는 천부 포토다이오드(PD)와 심부 포토다이오드(PD) 두 개의 PD를 심부 트랜스퍼 게이트(DTG)로 분리하여 통합한다. 이 구성은 입사광을 파장 의존적으로 분리할 수 있게 하며, 천부 PD는 단파장 광을 흡수하고 심부 PD는 장파장 광을 흡수한다. DTG 오프 상태 동안 DTG에 인가하는 전압을 조정함으로써 제안된 PPD는 서로 다른 파장에 해당하는 전자들을 서로 다른 PD에 선택적으로 축적하고, DTG 온 상태에서는 독립적인 판독이 가능하게 한다. 제안 구조의 유효성은 TCAD 시뮬레이션을 통해 검증하였다. 잠재 퍼필, 광자 흡수 및 전자 수송 특성을 분석하여, 서로 다른 파장에서 생성된 전자들이 전기적으로 분리된 PD로 유도되고 이후 플로팅 디퓨전(FD) 노드로 전달됨을 확인하였다. 시뮬레이션 결과, 천부 PD는 적색광(650 nm)보다 청색광(450 nm)을 4.0배 더 많이 흡수하는 반면, 심부 PD는 청색광보다 적색광을 4.1배 더 많이 흡수하여, 제안된 픽셀 구조의 색 분리 능력을 보여준다. 우리는 제안된 구조가 해상도 및 효율이 향상된 차세대 고효율 이미지 센서 개발에 기여할 것이라 믿는다.
https://doi.org/10.1109/jsen.2025.3601341
Photodiode
Image sensor
Pixel
CMOS
Optoelectronics
CMOS sensor
Optics
Materials science
Physics
Computer vision
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Article
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인용수 11
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2024Halide Perovskite Photodiode Integrated CMOS Imager
Wenya Song, Jubin Kang, Karim Elkhouly, Sarah Hamdad, Xin Zhang, Maria Isabel Pintor‐Monroy, Abu Bakar Siddik, Patrick Carolan, Sownder Subramaniam, Yinghuan Kuang, Florian De Roose, Erwin Vandenplas, Naresh Chandrasekaran, Joo Hyoung Kim, Robert Gehlhaar, Seong‐Jin Kim, Jiwon Lee, Jan Genoe
IF 16 (2024)
ACS Nano
박막 포토다이오드(TFPD)는 단일 공정에 의해 제조 가능하다는 점이 뒷받침하는 독특한 광전자적 특성으로 상보성 금속-산화물-반도체(CMOS) 이미지 센서의 비전 기능을 보완할 수 있다. 할라이드 페로브스카이트는 큰 흡수 계수, 긴 캐리어 확산 길이, 높은 캐리어 이동도와 같은 뛰어난 광전자적 특성을 나타내는 것으로 알려져 있으며, 이는 포토다이오드(PD)에서 높은 외부 양자 효율(EQE)과 빠른 전하 수송을 가능하게 하여, 다른 박막 포토다이오드 후보에 비해 특히 유리하다. 본 논문에서는 실리콘(Si) 판독 집적회로(ROIC)와 결합한 페로브스카이트 광검출 물질을 사용하여 고해상도 2차원(2D) 및 3차원(3D) 이미징 기능을 시연한다. 이 페로브스카이트 포토다이오드(PePD)를 Si ROIC에 통합함으로써 2D 이미징에 대한 미세한 해상도를 제공한다. PePD의 빠른 캐리어 수송 특성은 동일한 센서를 사용하여 물체의 깊이 감지를 가능하게 한다. 제안된 상부 전극 제어 간접 비행시간(iToF) 동작을, TFPD 이미지 센서 픽셀의 상부 공통 전극을 통한 빠른 PD 스위칭으로 지원함으로써 3D 이미징을 시연한다. Si ROIC 상의 PePD는 CMOS 이미지 센서 기술과의 결합을 통해 기존의 2D 이미징뿐 아니라 3D 감지를 향한 확장까지 가능하게 하여, 자동차, 증강현실(AR), 가상현실(VR) 분야에서의 유망한 응용과 함께 TFPD 이미징 플랫폼에 있어 의미 있는 이정표를 마련할 것으로 기대된다.
https://doi.org/10.1021/acsnano.4c13136
Photodiode
Optoelectronics
Photodetection
Materials science
Image sensor
Perovskite (structure)
CMOS
Quantum efficiency
Photodetector
Optics
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Article
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인용수 61
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2023Thin-film image sensors with a pinned photodiode structure
Jiwon Lee, Epimitheas Georgitzikis, Yannick Hermans, Nikolas Papadopoulos, Naresh Chandrasekaran, Minhyun Jin, Abu Bakar Siddik, Florian De Roose, Griet Uytterhoeven, Joo Hyoung Kim, Renaud Puybaret, Yunlong Li, Vladimir Pejović, Gauri Karve, David Cheyns, Jan Genoe, Paweł E. Malinowski, Paul Heremans, Kris Myny
IF 33.7 (2023)
Nature Electronics
https://doi.org/10.1038/s41928-023-01016-9
Photodiode
Optoelectronics
Dark current
Materials science
Image sensor
Thin film
Silicon
Noise (video)
Optics
Photodetector
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Article
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인용수 2
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2022Design and Characterization of Near-Infrared Sensitivity-Enhanced Three-Tap Fully Depleted Image Sensor for Fluorescence Lifetime Imaging
Yun-Tzu Chang, Pol Van Dorpe, Celso Cavaco, Andréa Vinci, Mitali Sinha, P. Boulenc, Andreas Süss, Tom Verschooten, Chris Van Hoof, Jiwon Lee
IF 4.3 (2022)
IEEE Sensors Journal
근적외선(NIR) 형광 수명 이미징 현미경(FLIM) 응용을 위한 3개의 전이 게이트를 갖춘 후면 조사(backside illumination, BSI) 실리콘 기반 CMOS 이미지 센서(CIS)를 설계하고 최적화하였다. 보다 효율적인 형광 획득을 위해 샘플 손상 및 광표백을 회피하는 3-탭 설계를 고려하였다. NIR 범위에서 더 높은 외부 양자 효율(EQE)과 낮은 기생 광 민감도(PLS)를 얻기 위해 두꺼운 실리콘 기판과 p-웰 퍼널(p-well funnel)을 적용하였다. 또한 픽셀의 광전하 수집 속도를 조사하고 최적화하였다. 해당 3-탭 이미지 센서는 940 nm에서 42.6%의 높은 EQE와 −60 dB의 낮은 PLS를 보였으며, 픽셀 응답은 7.41 ns이다. 개발된 이미지 센서를 이용한 형광 수명 이미징을 705-nm 피크 방출을 예로 들어 정확도로 시연하였다.
https://doi.org/10.1109/jsen.2022.3195766
Image sensor
Photobleaching
Materials science
Quantum efficiency
Optoelectronics
Fluorescence
Pixel
Fluorescence-lifetime imaging microscopy
Silicon
Sensitivity (control systems)