이정호 교수 연구실
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게이트 유전막의 신뢰도 측정용 소자 및 그를 이용한 게이트 유전막의 신뢰도 측정 방법
10-2003-0040812
2003.06
희생 측벽 스페이서를 이용한 모스에프이티 제조 방법
10-2003-0040816
2003.06
플라즈마를 이용한 이중 게이트 산화막 형성방법
10-2003-0040804
2003.06
절연막 마스크를 이용한 반도체 소자의 패턴
10-2003-0040783
2003.06
다마신공정을 이용한 반도체 소자의 제조방법
10-0372641-0000
2003.02
게이트전극 및 그를 구비한 반도체 소자의 제조 방법
10-2003-0002195
2003.01
게이트 재산화법을 이용한 반도체 소자의 제조
10-2002-0086382
2002.12
적층 게이트 전극 및 그를 구비하는 반도체
10-2002-0084568
2002.12
반도체소자의 듀얼 게이트 산화막 제조방법
10-2002-0086436
2002.12
계면 반응이 억제된 적층 게이트전극 및 그를 구비한 반도체 소자의 제조 방법
10-2002-0086275
2002.12
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