이상치를 이용한 자기지도학습 기반 이상 감지 방법 및 시스템

라벨 노이즈에 강건한 자동 라벨링 방법 및 시스템

다중 프로토타입 대조학습 기반 분포 외 데이터 검출 방법 및 시스템

다중 프로토타입 대조학습 기반 분포 외 데이터 검출 방법 및 시스템 (Multi-Prototype Contrastive Learning with Hard Negatives for Out-of-Distribution (OOD) Detection)

이상치를 이용한 자기지도학습 기반 이상 감지 방법 및 시스템 (GAN-BASED AUTOENCODER ANOMALY DETECTION METHOD AND SYSTEM USING OUTLIERS)

라벨 노이즈에 강건한 자동 라벨링 방법 및 시스템 (Robust Auto-Labeling Framework with Noisy Labels)

딥러닝을 이용한 2단계 반도체 공정 설비 이상 감지 방법 및 시스템 (Two Stage Anomaly Detection Framework for Semiconductor Manufacturing using Deep Learning)

반도체 설비 센서 데이터를 입력으로 하여 DNN으로 자동 라벨링하는 방법 및 시스템 (Method and System for Deep Learning-based Auto Labeling using Semiconductor FDC Sensor Data)

이미지 분석 방법 및 이를 수행하는 이미지 분석 장치 (METHOD AND APPARATUS WITH IMAGE ANALYSIS)

공정 이상 예측 방법 및 장치 (METHOD AND DEVICE FOR PREDICTING PROCESS ANOMALIES)