허영범 교수 연구실
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AI 기반 반도체 공정 이상 감지 프로그램
C-2024-019073
2024.06
CNN기반의 발성 장애 분류 기법
C-2023-000507
2023.01
이상치를 이용한 자기지도학습 기반 이상 감지 방법 및 시스템
10-2024-0166035
2024.11
라벨 노이즈에 강건한 자동 라벨링 방법 및 시스템
10-2024-0154387
2024.11
딥러닝을 이용한 2단계 반도체 공정 설비 이상 감지 방법 및 시스템
10-2024-0101414
2024.07
AI 기반 반도체 공정 이상 감지 프로그램
C-2024-019073
2024.06
CNN기반의 발성 장애 분류 기법
C-2023-000507
2023.01
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