RCAS 연구실은 한양대학교 ERICA캠퍼스 전자공학부 소속으로, 신뢰성 높은 아날로그 및 혼성신호 회로 설계와 첨단 테스트 기술 개발에 중점을 두고 있습니다. 본 연구실은 아날로그 회로와 디지털 회로가 결합된 혼성신호 시스템의 성능 향상과 신뢰성 확보를 위해 다양한 연구를 수행하고 있습니다. 특히, 제조 공정에서 발생하는 불확실성과 변동성에 대응하기 위한 자가보정 및 디지털 보조 기술 개발에 주력하고 있습니다. 연구실의 주요 연구 분야는 신뢰성 높은 아날로그 및 혼성신호 회로 설계, 디지털 보조 아날로그 회로, 저왜곡 및 저잡음 회로, 고속 I/O 설계 및 테스트, BIST 기반 테스트 방법론 등입니다. 다양한 아날로그-디지털 변환기(ADC) 구조에 대한 보정 알고리즘과 테스트 기법을 개발하여, 회로의 선형성, 잡음, 왜곡 등 주요 성능 지표를 극대화하고 있습니다. 또한, MEMS 기반 센서, 초고속 데이터 컨버터, 차세대 이더넷 통신 시스템 등 다양한 응용 분야에 연구 결과를 적용하고 있습니다. RCAS 연구실은 반도체 테스트 비용 절감과 생산성 향상을 위한 혁신적인 테스트 및 특성화 시스템을 개발하고 있습니다. 예를 들어, 스펙트럼 누출 기반 루프백 테스트, 아이 마진 테스트, 고정밀 특성화 시스템 등은 실제 반도체 생산 현장에서 활용되고 있으며, 산업계와의 협력을 통해 실질적인 기술 이전과 상용화도 이루어지고 있습니다. 연구실은 국내외 유수 학회 및 저널에 다수의 논문을 발표하고, 특허 출원 및 수상 경력을 보유하고 있습니다. 또한, 정부 및 산업체와의 공동 연구 프로젝트를 통해 실질적인 연구 성과를 창출하고 있습니다. 연구실 출신 졸업생들은 삼성전자, LG전자, Cadence 등 국내외 주요 기업에서 활약하고 있으며, 연구실의 우수한 연구 역량을 입증하고 있습니다. 앞으로도 RCAS 연구실은 신뢰성 높은 아날로그 및 혼성신호 회로 설계와 첨단 테스트 기술 분야에서 혁신적인 연구를 지속하여, 차세대 반도체 및 시스템 온 칩 산업의 발전에 기여할 것입니다.