RCAS 연구실은 신뢰성 높은 아날로그 및 혼성신호 회로 설계 분야에서 국내외적으로 선도적인 연구를 수행하고 있습니다. 아날로그 및 혼성신호 회로는 현대 전자기기의 핵심 구성 요소로, 데이터 변환, 신호 처리, 통신 등 다양한 응용 분야에서 필수적입니다. 본 연구실은 회로의 신뢰성과 성능을 극대화하기 위해 다양한 설계 기법과 보정 기술을 개발하고 있으며, 특히 제조 공정에서 발생할 수 있는 불확실성과 변동성을 극복하는 데 중점을 두고 있습니다. 회로의 신뢰성을 높이기 위해, 연구실에서는 캘리브레이션(자가보정) 기법, 저잡음 및 저왜곡 회로 설계, 고속 I/O 설계 등 다양한 첨단 기술을 적용하고 있습니다. 예를 들어, SAR ADC, 파이프라인 ADC, 플래시 ADC 등 다양한 아날로그-디지털 변환기 구조에 대해 캘리브레이션 알고리즘을 도입하여, 공정 변화에 따른 성능 저하를 최소화하고 있습니다. 또한, 혼성신호 회로의 동적 특성 평가 및 예측을 위한 루프백 기반의 테스트 및 분석 기법도 활발히 연구되고 있습니다. 이러한 연구 성과는 반도체, 통신, 센서, 의료기기 등 다양한 산업 분야에서 활용되고 있으며, 실제 칩 설계 및 상용화에도 기여하고 있습니다. RCAS 연구실은 앞으로도 신뢰성 높은 아날로그 및 혼성신호 회로 설계 분야에서 혁신적인 연구를 지속하여, 차세대 전자 시스템의 성능과 신뢰성을 한층 더 향상시키는 데 앞장설 것입니다.

디지털 보조 아날로그 회로(Digitally-assisted Analog Circuits)는 아날로그 회로의 한계를 극복하고, 성능을 극대화하기 위해 디지털 신호 처리 및 보정 기술을 결합한 첨단 분야입니다. RCAS 연구실은 디지털 보조 아날로그 회로의 설계와 구현, 그리고 이와 연계된 고속 I/O 회로의 테스트 및 특성 평가 기술을 집중적으로 연구하고 있습니다. 특히, 고속 데이터 전송 환경에서 발생할 수 있는 신호 왜곡, 잡음, 비선형성 문제를 해결하기 위해 다양한 디지털 보정 알고리즘과 테스트 방법론을 개발하고 있습니다. 연구실에서는 BIST(Built-In Self-Test) 기반의 아이 마진 테스트, 스펙트럼 누출 기반 루프백 테스트, 고정밀 특성화 시스템 설계 등 다양한 고속 I/O 테스트 기술을 연구하고 있습니다. 이러한 기술들은 10GbE, 40GbE, 25Gbps SerDes 등 차세대 이더넷 및 고속 통신 시스템에 적용되어, 회로의 신뢰성과 성능을 실시간으로 평가하고 보정할 수 있도록 지원합니다. 또한, MEMS 기반 모션 센서 SoC, 초고속 GHz DAC 등 다양한 응용 분야에 맞춘 맞춤형 테스트 및 보정 솔루션도 개발 중입니다. 이러한 연구는 반도체 테스트 비용 절감, 생산성 향상, 제품 신뢰성 확보에 크게 기여하고 있습니다. RCAS 연구실은 앞으로도 디지털 보조 아날로그 회로와 고속 I/O 테스트 기술의 융합을 통해, 미래 반도체 및 시스템 온 칩(SoC) 산업의 경쟁력을 높이는 데 중요한 역할을 할 것입니다.