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Article
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·
인용수 0
·
2025
Rigorous analysis on the operating mechanism of gate-injection ferroelectric flash
Yelim Jeon
,
Hyungju Noh
,
Seungwon Go
,
Sangwan Kim
IF 1.4 (2025)
Solid-State Electronics
키워드
Flash (photography)
Mechanism (biology)
Ferroelectricity
Flash memory
Materials science
Optoelectronics
Computer science
Embedded system
Optics
Physics
타입
Article
IF / 인용수
1.4 / 0
원문
https://doi.org/10.1016/j.sse.2025.109153
게재 연도
2025