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Mesh 구조의 차폐 효과 시뮬레이션

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Short-TDR을 이용한 테스트 진단 기술에 관한 연구

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Modeling and Analysis of Susceptibility for Integrated Circuit

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Y-파라미터 추출방법을 이용한 패키지 회로 모델에 관한 연구

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Analysis and Measurement Technique of Signal Transfer Characteristics