발행물
컨퍼런스
Samsung Electronics
2015.05
,
High-sensitivity RFI Noise Measurement
SATTI (Samsung Advanced Technology Training Institute)
2015.02
Advanced SI/EMC Design
IEIE RF/Analog Circuit Workshop
2014.09
Component-level EMI Evaluation for Mobile Devices
KIEES Academy Summer Workshop
2014.08
High-sensitivity EM Probe Design based on Conventional PCB Process
2022.08
Excellent Paper Award (우수논문상) – “인쇄나선형 코일 구조 임피던스 예측을 위한 신경망 모델의 학습효율 개선 알고리즘에 대한 연구”