,

생존분석을 이용한 정비 시점 진단 및 예측

,

제조 공정 빅 데이터를 활용한 클러스터링 기반 특질 추출

,

공간 데이터 분석 기법을 이용한 웨이퍼 맵 데이터의 특질 추출

,

MARS(Multivariate Adaptive Regression Splines)를 이용한 비선형 주기신호의 이상 탐지

,

A Spatial Point Pattern Analysis to Recognize Fail Bit Patterns in Semiconductor Manufacturing