INTEGRATED SOLID-STATE DEVICES AND CIRCUITS LAB.
연세대학교 본교(제1캠퍼스)전기전자공학부
윤홍일 교수
Built-Off Self Test (BOST)
Voltage Reference Circuits
Low-Power DRAM
발행물
컨퍼런스
대한전자공학회
2005
,
0.25 um RF CMOS ESD(Electro-Static Discharge) Protestion Devices and circuits design
한국 반도체 학술대회
MRAM Cell의 sensitivity 향상을 위한 Offset-cancellation Pre-sensing Scheme
한국 전기전자 재료 학회
2004
Genetic Algorithm for Improving the survivability of Self-Adaptive Network Processor
