INTEGRATED SOLID-STATE DEVICES AND CIRCUITS LAB.
연세대학교 본교(제1캠퍼스)전기전자공학부
윤홍일 교수
Low-Power DRAM
Server on Chip
High-Speed Memory Systems
프로젝트
완료된 프로젝트
31
[RCMS]차세대 반도체 테스트 핀 감소를 위한 built off self test (BOST) 기술 연구(2/6)
한국산업기술평가관리원
2017년 01월 -
32
차세대 반도체 테스트 핀 감소를 위한 built off self test (BOST) 기술 연구(2/6)
한국반도체연구조합
2017년 01월 - 2017년 12월
33
SK하이닉스/(분리-3세부)MRAM 기반 FPGA 개발을 위한 회로 기술 연구
국내
2017년 01월 - 2019년 06월
34
차세대 반도체 테스트 핀 감소를 위한 built off self test (BOST) 기술 연구
한국반도체연구조합
2016년 10월 - 2017년 12월
35
[RCMS]차세대 반도체 테스트 핀 감소를 위한 built off self test (BOST) 기술 연구(1/6)
한국산업기술평가관리원
2016년 10월 - 2016년 12월
36
SK하이닉스/MRAM 기반 FPGA 개발을 위한 회로 기술 연구
국내
2016년 01월 - 2017년 12월
37
[분리_공동]SK하이닉스(주)/MRAM 기반 FPGA를 위한 회로 기술 연구
국내
2015년 01월 - 2016년 12월
38
차세대 초고속 테스터를 위한 ASIC Chip 개발(3/3)(2009.11.1~2012.10.31)
한국산업기술평가관리원
2011년 11월 - 2012년 10월
39
BK21기업체 대응
BK21기업체 대응
2004년 03월 - 2005년 02월
40
BK21모바일디스플레이용소자및회로핵심기술개발사업팀
학술진흥재단
2004년 03월 - 2005년 02월