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AI 기반 기업 서칭
데이지체인 coplanar waveguide와 S-파라미터/Z-파라미터 분석을 이용해 번인 소켓 및 PCB의 open/short 결함과 위치를 규명하는 연구
비메모리 반도체 테스트 환경에서 포고핀·테스트 소켓의 전기적 접속과 기계 구조를 함께 설계해 고주파 성능을 확보하는 연구
전송선로 기반 테스트 구조에서 임피던스 불연속이 S-파라미터와 Z-파라미터로 전이되는 특성을 모델링하고 결함 판별 성능을 향상하는 연구
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