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다중 식별자를 이용한 Adversarial Autoencoder？기반 제조 공정 이상 탐지

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New Anomaly Detection in Semiconductor Manufacturing Process using Oversampling Method

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Mixed Pattern Recognition Methodology on Wafer Maps with Pre-trained Convolutional Neural Networks

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RSPSO(Residual weighted Sparse Particle Swarm Optimization)를 활용한 고차원 오버레이 샘플링 선정기법

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반도체 디펙(defect)의 특성 데이터를 이용한 IADC(Imageless Automatic Defect Classification) 알고리즘 개발