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AEWGAN(Autoencoder Wasserstein Generative Adversarial Networks)을 이용한 고차원 불균형 데이터 이상 탐지

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사전 학습된 Convolutional Neural Networks를 활용한 확률 기반의 웨이퍼 맵 혼합 패턴 인식

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Wafer Defect 밀도 기반 반도체 DIE 품질 예측 기법

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Univariate signal preprocessing methodology for fault detection in semiconductor manufacturing process

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Segmented dynamic time warping based signal pattern classification