기계 건강 지표 구축을 위한 재구성 기반 이상 탐지

Pattern Classification for Small-Sized Defects Using Multi-Head CNN in Semiconductor Manufacturing

기계 학습을 이용한 셀 문턱 전압 분포 기반의 Soft Decision 센싱 레벨 예측

다중 식별자를 이용한 Adversarial Autoencoder 기반 제조 공정 이상 탐지

반도체 패키지 검사 공정의 데이터 변화 감지를 통한 불량 예측 모델의 갱신

반도체 계측 데이터 기반 군집화를 활용한 개선된 품질 예측 방법론

A Clustering-Based Equipment Condition Model of Chemical Vapor Deposition Process

Variational Autoencoder를 활용한 제조 실행 시스템(MES) 오동작 탐지

랜덤포레스트 기반 다 범주 분류기를 이용한 RTC(Real-time Contrast) 관리도

적은 소모량과 불분명한 소모패턴을 가진 수리부속의 수요예측