K-S검정(Kolmogorov-Smirnov Test)을 응용한 반도체 제조 시스템에서의 불량 원인 분석 방법론

MODWT의 시계열 데이터 적용과 ARIMA와 DBNs 결합모델을 이용한 예측

무기체계의 신뢰성 향상을 위한 고장발생기간 중심의대응분석 연구

CCA를 통한 반도체 공정 변인들의 상관성 분석 : 웨이퍼검사공정의 전압과 불량결점수와의 관계를 중심으로

반도체 공정에서의 Wafer Map Image 분석 방법론

다중공선성과 불균형분포를 가지는 공정데이터의 분류 성능 향상에 관한 연구

MCSVM을 이용한 반도체 공정데이터의 과소 추출 기법

생존분석을 이용한 디스플레이 FAB의 반송시간 예측모형

셀 레벨에서의 OPTICS 기반 특질 추출을 이용한 칩 품질 예측

관리도 성능평가모형을 통한 관리한계선 갱신주기 탐지기법