이영우 교수 연구실
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전체 특허
메모리 불량 분석 및 수리 알고리즘 검증 평가 프로그램
C-2022-054102
2022.12
메모리 테스트 성능 검증 환경을 위한 난후 생성 프로그램
C-2022-054103
2022.12
메모리 반도체 최적의 예비자원 수 예측 방법 및 장치
10-2022-0116161
2022.09
집속 이온빔 공격 검출 방법 및 이를 위한 보안 회로
10-2022-0116162
2022.09
ON-CHIP SECURITY CIRCUIT FOR DETECTING AND PROTECTING AGAINST INVASIVE ATTACKS
US 11,387,196
2022.07
ON-CHIP SECURITY CIRCUIT FOR DETECTING AND PROTECTING AGAINST INVASIVE ATTACKS
16877100
2020.05
TSV 병렬 테스트 장치 및 방법(TSV PARALLEL TEST APPARATUS AND METHOD THEREOF)
10-2075018-0000
2020.02
침투 공격에 대해 검출 및 보호가 가능한 온칩 보안 회로(On-Chip Security Circuit for Detecting and Protecting against Invasive Attacks)
10-2019-0068762
2019.06
Circuit for testing and analyzing TSV and method of testing the same
15460488
2017.03
반도체 테스트 프로그램 디버깅과 관련된 테스트 항목들의 우선순위를 결정하기 위한 장치 및 방법(APPARATUS AND METHOD FOR DETERMINING PRIORITY OF DEBUGGING TEST ITEMS ASSOCIATED WITH DEBUGGING TEST PROGRAM OF SEMICONDUCTOR)
10-2017-0010670
2017.01
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