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Grouping-Based TSV Test Architecture for Resistive Open and Bridge Defects in 3-D-ICs
Lee, YW (Lee, Young-woo), Lim, H (Lim, Hyeonchan), Kang, S (Kang, Sungho)
IEEE TRANSACTIONS ON COMPUTER-AIDED DESIGN OF INTEGRATED CIRCUITS AND SYSTEMS, 2017

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비트맵 데이터 학습을 통한 딥러닝 기반의 메모리 수리 예측 기술 연구
강유진, 오준석, 서은솔, 박석민, 이영우
디지털콘텐츠학회논문지, 202410

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BCAT구조 DRAM의 패싱 워드 라인 유도 누설전류 분석
김신욱, 조형진, 서현아, 이주원, 임채혁, 이혜린, 박제원, 김소원, 이영우, 이명진, 김수연, 김동영
전기전자학회논문지, 202312

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광학 문자 인식 기술을 활용한 점자 변환 시스템의 설계 및 구현
김광역, 노순혁, 양다빈, 이영우
디지털콘텐츠학회논문지, 202311

15

교통사고 저감을 위한 인공지능 기반 인캐빈 모니터링 시스템
강창우, 김철중, 이가영, 이영우
디지털콘텐츠학회논문지, 202311

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침투 공격 검출을 위한 비대칭 신호 스캐닝 기법
양다빈, 이가영, 이영우
스마트미디어저널, 202302