발행물
컨퍼런스
2024 International SoC Design Conference (ISOCC)
2024
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Production-Oriented Design for High Parallel Test Efficiency
Optimized Instruction Set Architecture for Programmable memory Test Pattern Generation
제 25회 한국 테스트 학술대회
2D diagonal parity mapping 기반의 TSV 테스트 기법
TSV 수리 가능 여부 조기 판단이 가능한 인공지능 학습 모델 분석
양산 환경을 고려한 병렬 테스트 기법