발행물
컨퍼런스
제 25회 한국 테스트 학술대회
2024
,
3차원 반도체의 개방 불량 조기 검출을 위한 테스트 기법
2024년도 한국통신학회 하계종합학술발표회
CAN ID 오류 검출이 가능한 차량용 네트워크 신뢰성 향상 기법
2023 전자.반도체.인공지능 학술대회
2023
Cross-Parity 기반의 향상된 스캔 테스트 구조
Asia-Pacific Workshop on Advanced Semiconductor Devices 2023
Reduced Pin-Count Test Scheme for High Parallel Test Capabilities
Output Compression Scheme of Multi-Site Testing for System-on-Chip