발행물
컨퍼런스
한국반도체테스트학회 2023
2023
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DC 파라미터 테스트의 병렬성 향상을 위한 reconfigurable 테스트 인터페이스 구조
TFT-LED의 외부 보상 회로 기반 신뢰성 향상 기법
비인가된 Microprobing 접근 검출이 가능한 초소형 보안 회로
3차원 반도체의 단일 셀 수리 구조에 적용 가능한 나선형 알고리즘
병렬성 향상을 위한 테스트 핀 감소 기법