발행물
컨퍼런스
2014 SPIE Photonics Europe
2014
,
Metrology of undoped double-sided polished silicon wafer: surface, thickness and refractive index profile measurements
2014 한국광학회 동계학술대회
서브 샘플링 기법을 이용한 저간섭성 주사 간섭계와 그 응용
근적외선 저간섭성 간섭계의 활용: 실리콘 웨이퍼의 두께, 굴절률 3D측정
한국정밀공학회 2013 추계학술대회
2013
근적외선을 이용한 실리콘 웨이퍼의 두께, 굴절률 3D 측정
2013 한국정밀공학회 추계학술대회
분산 간섭계의 성능 개선을 위한 최적화 알고리즘 연구