주요 논문
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*2026년 기준 최근 6년 이내 논문에 한해 Impact Factor가 표기됩니다.
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Article
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인용수 2
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2025Snapshot angle-resolved channeled spectroscopic micro-ellipsometry for thin-film characterization
Young Joon Kim, S.J. Lee, Heui Jae Pahk
IF 1.7 (2025)
Applied Optics
Si 웨이퍼 위에 증착된 박막은 두께가 10~1500 nm 범위에 걸쳐 있으며, 두께와 굴절률 값이 모두 성공적으로 측정되었고, 이는 상용 타원편광계로 얻은 값과 비교하여 확인하였다.
https://doi.org/10.1364/ao.558576
Optics
Ellipsometry
Materials science
Characterization (materials science)
Thin film
Refractive index
Snapshot (computer storage)
Physics
Nanotechnology
Computer science
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Article
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인용수 6
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2024Enhancing Battery Exterior Defect Inspection Accuracy Through Defect-Background Separated GAN Development
Donghun Ku, Heui Jae Pahk
IF 3.6 (2024)
IEEE Access
본 논문은 딥러닝과 GAN(Generative Adversarial Network)을 이용하여 결함-배경을 분리한 생성적 적대 신경망(defect-background separated GAN)을 개발하고, 이를 통해 배터리 외관 결함 검사 정확도를 향상시키고자 한다. 실제 배터리 생산 라인에서는 결함 유형에 따라 결함 발생률이 달라, 결함 획득에 소요되는 시간이 길어 대규모의 균일한 결함 데이터셋을 생성하기 어렵다. 그 결과 배터리 외관 결함 검사 정확도가 저하된다. 대규모의 균일한 결함 데이터셋을 구축하기 위해, 본 논문은 GAN의 원리에 기반한 결함-배경 분리 GAN을 제안한다. 결함-배경 분리 GAN은 결함의 분할 라벨링을 참조하여 결함과 배경에 대한 효과적인 분리 학습을 수행한다. 결함-배경 분리 GAN을 활용한 데이터셋 증강을 통해 새로 생성된 합성 결함 이미지의 성능 품질이 향상되며, 대규모 데이터셋 학습을 통해 배터리 외관 결함 검사 정확도를 높일 수 있다. 실험 결과, 배터리 외관 결함 데이터셋에서 다양한 다른 방법들 중 Fréchet inception distance 점수가 가장 낮았고, 사람의 눈으로 식별 가능한 선명한 합성 결함을 생성하였다. 또한, 이 대규모의 균일한 결함 데이터셋에서 결함 분할을 학습함으로써 정확도 96.1%와 intersection over union 값 0.71을 달성하였다. 궁극적으로, 이 결함 검사 네트워크를 실제 생산 라인에 적용한 결과 시간 효율이 72% 향상되었다. 이는 결함-배경 분리 GAN을 통해 생성된 대규모의 균일한 결함 데이터셋이 안정적이며 견고함을 보여준다.
https://doi.org/10.1109/access.2024.3380618
Computer science
Battery (electricity)
Reliability engineering
Optoelectronics
Materials science
Artificial intelligence
Pattern recognition (psychology)
Engineering
Physics
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Article
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인용수 13
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2020Angle-resolved spectral reflectometry with a digital light processing projector
Garam Choi, Mingyu Kim, Jin-Yong Kim, Heui Jae Pahk
IF 3.894 (2020)
Optics Express
본 연구에서는 디지털 라이트 프로세싱(DLP) 프로젝터를 이용한 각도 분해 분광 반사계측(angle-resolved spectral reflectometry)의 새로운 접근법을 제시한다. 여기서 DLP는 링(ring) 패턴 이미지를 생성하며, 이를 대물렌즈의 후초점면(back focal plane)에 투사한다. 제안된 방법은 후초점면의 반지름과 입사각 사이의 관계를 바탕으로, 입사각을 신속하고 용이하게 변화시킨다. 그 결과, 검출기는 각도 및 분광 축을 기준으로 이미지 평면의 광강도를 포착한다. 제안된 방법은 시료 이미지에서 관심 영역(spot)을 검출함으로써, 전체 시야(full field of view)를 관찰하는 방식으로 측정 영역을 손쉽게 위치시키며, 섬유(fiber)를 채택함으로써 점 크기를 감소시킨다. 본 방법은 박막(thin-film) 시료의 측정 출력치를 상용 타원편광계(commercial ellipsometer)와 비교하여 검증하였다. 그 결과, 제안된 방법은 박막 검사에서 높은 정확도를 가능하게 함을 보여준다.
https://doi.org/10.1364/oe.405204
Optics
Reflectometry
Projector
Collimated light
Viewing angle
Cardinal point
Materials science
Physics
Computer science
Computer vision
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Article
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인용수 30
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2020Co-axial spectroscopic snap-shot ellipsometry for real-time thickness measurements with a small spot size
Seung-Woo Lee, Sin Yong Lee, Garam Choi, Heui Jae Pahk
IF 3.894 (2020)
Optics Express
상용 타원계(ellipsometer)로 측정한 Si 박막 샘플.
https://doi.org/10.1364/oe.399777
Ellipsometry
Optics
Materials science
Calibration
Accuracy and precision
Thin film
Physics
Nanotechnology
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Article
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인용수 6
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2020Active Contour Method Based Sub-pixel Critical Dimension Measurement of Thin Film Transistor Liquid Crystal Display (TFT-LCD) Patterns
Jeong Hoon Lee, Tai-Wook Kim, Dong Hun Ku, Heui Jae Pahk
IF 2.106 (2020)
International Journal of Precision Engineering and Manufacturing
https://doi.org/10.1007/s12541-019-00314-7
Thin-film transistor
Liquid-crystal display
Pixel
Transistor
Dimension (graph theory)
Materials science
Contour line
Optoelectronics
Computer graphics (images)
Computer science