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전체 논문

90

11

SRAM PUF 가속 노화 시험 절차 수립
전승배, 김문석, 박준영
융합보안 논문지, 2024

12

고압 중수소 어닐링을 통한 SiO2 절연체의 균일성 개선
박준영, 김용식, 정대한, 박효준, 연주원, 길태현
전기전자재료학회논문지, 2024

13

저온 중수소 어닐링을 활용한 Enclosed-Layout Transistors (ELTs) 소자의 제작 및 전기적 특성분석
김동호, 박준영, 왕동현, 길태현, 연지영, 김용식
전기전자재료학회논문지, 2024

14

Investigation of Deuterium De-Passivation by Repetitive Thermal Stress in CMOS Fabrication
구자윤, 정대한, 이광선, 왕동현, 길태현, 박효준, 윤성수, 연주원, 박준영
IEEE TRANSACTIONS ON DEVICE AND MATERIALS RELIABILITY, 2024

15

Low-Temperature Deuterium Annealing for HfO2/SiO2 Gate Dielectric in Silicon MOSFETs
강상민, 김민우, 윤의철, 이문권, 박효준, 연주원, 길태현, 박준영
IEEE JOURNAL OF THE ELECTRON DEVICES SOCIETY, 2024

16

Durability of Low-Temperature Deuterium Annealing Against Ionizing Radiation in MOSFETs
박준영, 길태현, 박효준, 연주원, 이문권, 윤의철
IEEE TRANSACTIONS ON ELECTRON DEVICES, 2024

17

Low-frequency noise characterization of positive bias stress effect on the spatial distribution of trap in β-Ga2O3 FinFET
박준영, 배학열, 이건범, 유재욱, 이광선, 구자윤, 김기현, 김정식, Peide D. Ye, 최양규
SOLID-STATE ELECTRONICS, 2024

18

High-Pressure Deuterium Annealing for Trap Passivation for a 3-D Integrated Structure
박준영, 이정우, 한준규, 왕동현, 윤성윤, 오정섭, 방병찬, 차원효, 최양규
IEEE TRANSACTIONS ON ELECTRON DEVICES, 2024

19

Low-Temperature Deuterium Annealing for High-Performance and Reliable Poly-Si Channel Thin-Film Transistors
박준영, 길태현, 김재훈, 구자윤, 왕동현, 정대한, 강문희
IEEE TRANSACTIONS ON ELECTRON DEVICES, 2024

20

Physically Unclonable Function With a Rough Silicon Channel MOSFET
박준영, 왕동현, 유지만, 구자윤, 윤성수, 김재훈, 한준규, 길태현, 연주원, 최양규, 정대한
IEEE TRANSACTIONS ON ELECTRON DEVICES, 2024