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전체 논문

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31

Trench Gate Nanosheet FET to Suppress Leakage Current From Substrate Parasitic Channel
박준영, 양병도, 이광선
IEEE TRANSACTIONS ON ELECTRON DEVICES, 2023

32

J.-M. Yu et al., Solid-State Electron., 2022
J.-M. Yu
Solid-State Electron., 2022

33

진공 게이트 스페이서를 지니는 Bulk FinFET의 단채널효과 억제를 위한 소자구조 최적화 연구
박준영, 연지영, 이광선, 윤성수, 연주원, 배학열
전기전자재료학회논문지, 2022

34

플래시메모리소자의 구조에 대한 열적 데이터 삭제 효율성 비교
박준영, 김유정, 이승은, 이광선
전기전자재료학회논문지, 2022

35

Investigation of Mechanical Stability during Electro-thermal Annealing in a 3D NAND Flash Memory String
박준영, 김유진
JOURNAL OF SEMICONDUCTOR TECHNOLOGY AND SCIENCE, 2022

36

3D NAND 플래시메모리 String에 전열어닐링 적용을 가정한 기계적 안정성 분석 및 개선에 관한 연구
김유진, 박준영
전기전자재료학회논문지, 2022

37

고압 중수소 열처리에 의한 MOSFETs의 특성 개선에 대한 연구
손영서, 왕동현, 구자윤, 정대한, 박준영
전기전자재료학회논문지, 2022

38

Nanosheet FETs에서의 효과적인 전열어닐링 수행을 위한 기계적 안정성에 대한 연구
왕동현, 박준영
전기전자재료학회논문지, 2022

39

Low-temperature deuterium annealing to improve performance and reliability in a MOSFET
박준영, 유지만, 왕동현, 구자윤, 한준규, 정대한, 최양규
SOLID-STATE ELECTRONICS, 2022

40

High Pressure Deuterium Annealing for Improved Immunity Against Stress-Induced Threshold Voltage Degradation
박준영, 정대한, 신우철, 김민경, 구자윤, 왕동현, 이광선
IEEE TRANSACTIONS ON DEVICE AND MATERIALS RELIABILITY, 2022