백상현 교수 연구실
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개인 방사선 피폭 관리 플랫폼 및 그 동작 방법
10-2025-0000592
2025.01
메모리 반도체를 위한 랜덤 테스트 패턴 개발 방법 및 장치
10-2024-0126502
2024.09
행 해머링을 이용한 DRAM의 성능 분석 방법 및 오류 검출 방법
PCT/KR2022/002042
2022.02
행 해머 고장 테스트를 활용한 전자 에너지 측정 방법
10-2020-0120947
2020.09
레퍼런스 관통 전극을 이용하여 고장 진단하는 인터커넥션 고장 진단 장치 및 그 방법
10-2019-0160685
2019.12
SSD 소프트에러 테스트의 국부적 방사선 조사를 위한 콜리메이터 장치 및 그 방법
10-2018-0021840
2018.02
관통 전극의 결함 측정 방법 및 장치
10-2017-0050186
2017.04
반도체 장치, 이를 위한 테스트 방법 및 시스템(Semiconductor Device, Method and System for Testing the Semiconductor Device)
10-2017-0019160
2017.02
SEMICONDUCTOR DEVICE HAVING REPAIRABLE PENETRATION ELECTRODE
15/318,093
2016.12
멀티다이 집적회로의 폴트 위치 분석 장치
10-2016-0135044
2016.10
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