백상현 교수 연구실
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비트 수를 증가시킨 SRAM 기반 TCAM의 동작 방법 및 시스템
PCT/KR2016/010215
2016.09
리페어 가능한 3차원 반도체 소자, 및 그 리페어 방법
10-2016-0048606
2016.04
램을 이용하여 캠의 매치 라인과 비교 셀 아키텍처 에뮬레이팅 방법 및 장치
10-2016-0030826
2016.03
리페어 가능한 관통 전극을 갖는 반도체 장치
10-2015-0134619
2015.09
반도체 메모리 장치의 프리차지 제어 회로 및 방법 (Method and Circuit for Controlling Precharge of Semiconductor Memory Device)
10-2015-0073970
2015.05
반도체 장치, 이를 위한 테스트 방법 및 시스템
10-2015-0028143
2015.02
리페어 가능한 관통 전극을 갖는 반도체 장치
PCT/KR2015/001786
2015.02
극저온 냉매를 이용한 국부적 저온 챔버
10-2014-0026785
2014.03
LAYOUT LIBRARY OF FLIP-FLOP CIRCUIT
13/989,052
2013.05
이중 인라인 메모리 모듈 및 테스트 소켓을 이용한 고속 메모리 콤포넌트 테스트 시스템 및 장치
10-2013-0032708
2013.03
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