백상현 교수 연구실
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반도체 소자의 테스트 방법 및 이를 위한 노이즈 발생방법
10-2010-0045553
2010.05
메모리 비트 맵 뷰어
2009-01-121-006532
2009.11
레일투레일 저전력 전압 센스 증폭기
2008-0130513
2008.12
반도체 메모리 장치 및 그것의 테스트 방법
10-2007-0083963
2007.08
단위셀 간의 연결고장 테스트를 위한 반도체 메모리 장치 및 테스트 방법
10-2007-0071751
2007.07
비트라인을 이용한 메모리 셀 간의 연결 고장 테스트하기 위한 반도체회로 및 그 테스트 방법
10-2006-0129000
2006.12
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