발행물
컨퍼런스
IEEE International Integrated Reliability Workshop
2010
,
Memory Reliability Model for Accumulated and Clustered Soft Errors
New DRAM HCI Qualification Method Emphasizing on Repeated Memory Access
제11회 한국테스트학술대회
복합적인 고장에 의한 VDDmin Shift의 관계 분석
대한전자공학회 하계종합학술대회
면적 효율과 고-분해능을 가지는 CMOS 버니어 딜레이 라인 셀 디자인
2010 SoC 학술대회
병렬인터페이스와 직렬이터페이스 변환의 전력소모 모델