발행물
컨퍼런스
10th European Conference on Radiation Effects on Components and Systems
2009
,
Selection of the Optimal Interleaving Distance for Memories Suffering MCUs
제10회 테스트학술대회
그라운드 핀의 제거 방법을 통한 지연 테스트의 실현을 위한 프로브 카드에서의 그라운드 핀 제거방법 구현
th IFAC International Conference on FeT`2009
Analysis of Low Power Sensor Node Using Data Compression
Silicon Errors in Logic - System Effects
Analysis of a Multiple Cell Upset Failure Model for Memories
IBIS summit meeting
2008
Advances in 7.5Gb/s SerDes Modeling using IBISv4.2 (VHDL-AMS and Verilog-AMS)