발행물
컨퍼런스
CIRP2009
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Chemical and mechanical balance in polishing of electronic materials for defect-free surfaces
전기전자재료학회 2009년도 하계학술대회
실리콘 웨이퍼 양면 연마 공정의 기구학적 모델링과 해석에 관한 연구
CMP에서 리테이너링의 압력에 따른 연마율 프로파일과 응력 분포 해석
화학 기계적 연마에서 패드표면 특성이 웨이퍼 불균일도에 미치는 영향
The 1st International Symposium on Hybrid Materials and Processing
Effect of Corrosion Inhibitor on Friction and Surface Characteristics of Copper CMP